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下列关于智能电子设备的电磁兼容检验方法及技术指标描述错误的是（）

来源：网络时间：2024-07-23 21:09:24

"下列关于智能电子设备的电磁兼容检验方法及技术指标描述错误的是（）"这道题的答案是什么呢，答案在下文中哦。

下列关于智能电子设备的电磁兼容检验方法及技术指标描述错误的是（）

A.1MHz脉冲群抗扰度试验，要求满足Ⅲ级标准

B.静电放电抗扰度试验，要求满足Ⅳ级标准

C.辐射电磁场抗扰度试验，要求满足Ⅲ级标准

D.工频磁场抗扰度试验，要求满足Ⅲ级标准

正确答案：D

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1下列智能电子设备的电磁兼容检验方法及技术指标正确的是（）。2智能电子设备的电磁兼容检验方法中，1MHz脉冲群抗扰度试验，要求满足Ⅱ级标准 3下列关于wireshark的描述错误的是（）。4下列关于法律的描述，错误的是（）。5下列关于Mybatis的描述错误的是（）6下列关于假设检验的描述，正确的是（）。7智能电子设备的电磁兼容检验电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度试验，要求电压暂降60%、持续（）8下列关于类型兼容规则的说法中，错误的是（）9关于雷达图，下列描述错误的是：10下列关于保养描述中错误的是？（）

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