绕组频率响应试验时,待试设备绕组的频率响应特性与分接开关的位置有关,建议在最低分接位置下测量,或者应保证每次测量时分接开关均处于相同的位置。

来源:网络时间:2024-07-30 21:09:26

"绕组频率响应试验时,待试设备绕组的频率响应特性与分接开关的位置有关,建议在最低分接位置下测量,或者应保证每次测量时分接开关均处于相同的位置。"这道题的答案是什么呢,答案在下文中哦。

绕组频率响应试验时,待试设备绕组的频率响应特性与分接开关的位置有关,建议在最低分接位置下测量,或者应保证每次测量时分接开关均处于相同的位置。

A、正确

B、错误

正确答案:B

本文内容为用户投稿,该文观点仅代表作者本人,不代表本站立场,本站仅提供信息存储空间服务,不拥有所有权,不承担相关法律责任。 如若内容造成侵权/违法违规/事实不符,请将相关资料发送至[email protected]进行反馈与投诉,一经查实,立即处理!